Thick800 специально разработан для быстрого и неразрушающего анализа толщины напыления и полного элементного анализа. В Thick800 реализована облегченная структура, 3-D мерная передвигаемая платформа для образцов и лазерная система позиционирования, которая позволяет осуществлять поточечное определение толщины напыления и элементного содержания образцов большого размера. Защитная стеклянная пластина предотвращает влияние рентгенофлуоресцентного излучения оператора.
http://www.skyrays.ru/product/thick800.php
Комментарии
| |
Поставить закладку
06.03.2009